Bringing together experts from the various disciplines involved, this first comprehensive overview of the current level of stress engineering on the nanoscale is unique in combining the theoretical fundamentals with simulation methods, model systems and characterization techniques. Essential reading for researchers in microelectronics, optoelectronics, sensing, and photonics.
Скачать книгу «Mechanical Stress on the Nanoscale. Simulation, Material Systems and Characterization Techniques» Группа авторов
Чтобы оставить свою оценку и/или комментарий, Вам нужно войти под своей учетной записью или зарегистрироваться