David C. Cox — Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology, краткое содержание
This book describes modern focused ion beam microscopes and techniques and how they can be used to aid materials metrology and as tools for the fabrication of devices that in turn are used in many other aspects of fundamental metrology. Beginning with a description of the currently available instruments including the new addition to the field of plasma-based sources, it then gives an overview of ion solid interactions and how the different types of instrument can be applied. Chapters then describe how these machines can be applied to the field of materials science and device fabrication giving examples of recent and current activity in both these areas.
Чтобы оставить свою оценку, войдите или зарегистрируйтесь
📖 О книге «Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology»
«Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology» — произведение автора David C. Cox в жанре Техническая литература . На сайте Книгизм книга доступна для бесплатного скачивания в формате fb2 и для онлайн-чтения полной версии без регистрации. За всё время произведение скачали 10 раз.
🏷️ Жанры книги
Произведение «Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology» относится к следующим жанровым направлениям каталога Книгизм:
📚 Серия книги
«Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology» входит в серию «IOP Concise Physics». Рекомендуется читать серию по порядку: события и герои связаны между книгами.
👥 Похожие авторы в жанре
Если вам понравилась эта книга, обратите внимание на других популярных авторов в жанре «Техническая литература»:
❓ Часто задаваемые вопросы
Можно ли скачать книгу «Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology» бесплатно?
Да, книга доступна для скачивания в формате fb2 без регистрации и без оплаты на сайте Книгизм. Файл сохраняет структуру глав, иллюстрации и метаданные — подходит для FBReader, Cool Reader, AlReader и других читалок на смартфоне или электронной книге.
Можно ли читать книгу «Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology» онлайн без скачивания?
Да, полная версия произведения автора David C. Cox доступна для онлайн-чтения прямо в браузере. Откройте страницу книги, нажмите кнопку «Читать» — текст загрузится с пагинацией, настройкой шрифта, темой оформления и закладкой текущей позиции.
К какому жанру относится «Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology»?
Книга относится к жанру «Техническая литература».
📲 Как читать книгу на Книгизм
Книга «Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology» автора David C. Cox доступна на Книгизм бесплатно. Вы можете скачать файл fb2 для дальнейшего чтения в любой читалке (FBReader, Cool Reader, AlReader и других) на смартфоне, планшете или электронной книге. Формат fb2 сохраняет структуру глав, иллюстрации, оглавление и метаданные. Альтернатива — онлайн-чтение полной версии в браузере сразу без скачивания и без регистрации.