Rolf-Peter Vollertsen — Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies, краткое содержание
This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms—from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. It also offers the first reference book with all relevant physics, equations, and step-by-step procedures for CMOS technology reliability in one place. Practical appendices provide basic experimental procedures that include experiment design, performing stressing in the laboratory, data analysis, reliability projections, and interpreting projections.
Чтобы оставить свою оценку, войдите или зарегистрируйтесь
📖 О книге «Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies»
«Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies» — произведение автора Rolf-Peter Vollertsen в жанре Техническая литература . На сайте Книгизм книга доступна для бесплатного скачивания в формате fb2 и для онлайн-чтения полной версии без регистрации.
🏷️ Жанры книги
Произведение «Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies» относится к следующим жанровым направлениям каталога Книгизм:
👥 Похожие авторы в жанре
Если вам понравилась эта книга, обратите внимание на других популярных авторов в жанре «Техническая литература»:
❓ Часто задаваемые вопросы
Можно ли скачать книгу «Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies» бесплатно?
Да, книга доступна для скачивания в формате fb2 без регистрации и без оплаты на сайте Книгизм. Файл сохраняет структуру глав, иллюстрации и метаданные — подходит для FBReader, Cool Reader, AlReader и других читалок на смартфоне или электронной книге.
Можно ли читать книгу «Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies» онлайн без скачивания?
Да, полная версия произведения автора Rolf-Peter Vollertsen доступна для онлайн-чтения прямо в браузере. Откройте страницу книги, нажмите кнопку «Читать» — текст загрузится с пагинацией, настройкой шрифта, темой оформления и закладкой текущей позиции.
К какому жанру относится «Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies»?
Книга относится к жанру «Техническая литература».
📲 Как читать книгу на Книгизм
Книга «Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies» автора Rolf-Peter Vollertsen доступна на Книгизм бесплатно. Вы можете скачать файл fb2 для дальнейшего чтения в любой читалке (FBReader, Cool Reader, AlReader и других) на смартфоне, планшете или электронной книге. Формат fb2 сохраняет структуру глав, иллюстрации, оглавление и метаданные. Альтернатива — онлайн-чтение полной версии в браузере сразу без скачивания и без регистрации.